Koordinatni merilni stroj

Zeiss O-Inspect O-I 442

Multisenzorska koordinatna merilna naprava O-Inspect
O-Inspect O-I 442
Merilno območje: X = 400 mm, Y = 400 mm, Z = 200 mm
Napaka dolžinskega merjenja po ISO 10360-2
z VAST XXT:
MPE_E = (1,9 + L/250) µm,
MPE_P = 1,9 µm
Skenirna zmogljivost po ISO 10360-4 z VAST XXT:
MPE_THP = 3,5 µm v 68 s
Napaka dolžinskega merjenja po VDI/VDE 2617 list 6.1
za Discovery Zoom objektiv:
MPE_E2D(OT) = (1,9 + L/250) µm
Dovoljeni temperaturni razpon za specifikacije: 19–21 °C
Značilnosti naprave, oprema:
• Portalna merilna naprava z gibljivo merilno mizo
• Višina mize ca. 850 mm
Fpedpozg Ef Nefx Akwoi
• Merilni sistem z ločljivostjo 0,1 µm
• Integrirano blaženje vibracij
• PC-osnovana skenirna krmilna enota (ISC) integrirana
• Pripravljeno za optični kamerni sistem Discovery Zoom senzor in taktilno skenirno glavo VAST XXT TL1
• Integriran prehodni svetlobni sistem
• Numerična upravljalna plošča, standard z vrtljivo odlagalno polico
• Kalibracijska krogla D = 25 mm
• Kalibracijski obroč
• Redno kalibrirano s strani ZEISS
• Zadnja kalibracija: april 2025
• Popolna zgodovina kalibracij na voljo
• Obsežen paket dodatne opreme vključno z VAST XXT TL1, Discovery Zoom senzorjem, RT-OI Horizontal Complete, perforirano paleto, steklenim okvirjem in Calypso programsko opremo
• Originalna ZEISS dokumentacija na voljo
Naprava je bila redno kalibrirana in preverjana s strani ZEISS. Pripadajoči kalibracijski protokoli so na voljo.
Izvedene kalibracije:
• oktober 2009
• november 2011
• november 2013
• januar 2015
• januar 2016
• januar 2017
• januar 2018
• februar 2019
• januar 2020
• marec 2022
• april 2023
• april 2025
Opomba:
Redne kalibracije s strani ZEISS dokumentirajo neprekinjeno vzdrževanje in strokovno uporabo merilnega sistema. Pripadajoči kalibracijski protokoli so na voljo za vpogled resnim interesentom.

Oglas je bil avtomatsko preveden. Možne so napake pri prevodu.