Stacionarna naprava za analizo kovin

Spectro SPECTROLAB F / LAVFC01A

Proizvajalec: SPECTRO Analytical Instruments GmbH & Co. KG
Tip: SPECTROLAB F / LAVFC01A
Leto izdelave: 2004
Projektna/naročniška št.: 16996/04
Številka laboratorija: 116996-04
Stacionarna naprava za analizo kovin / OES-iskrni spektrometer za bakrove zlitine

Stacionarna naprava SPECTRO SPECTROLAB F za analizo kovin za kvantitativno analizo materialov
s pomočjo optične emisijske spektrometrije (OES/iskrna spektrometrija).
Po navedbah razpoložljive originalne dokumentacije je sistem zasnovan za analizo
materialov na osnovi bakra. Nameščeni in dokumentirani so programi CU-00 za
standardizacijo bakrove osnove, CU-20 za zlitine Cu/Zn ter CU-70 za zlitine Cu/Al.
Spektrometer ima tri dokumentirane optike in merilne kanale za številne
elemente zlitine in spremljajoče elemente. Med drugim so analizirani Cu, Zn, Pb, Sn, Al, Fe, Ni,
Si, Mn, Mg, Cr, Co, Cd, Sb, P in S.
Za napravo je na voljo obsežna originalna dokumentacija, vključno s protokoli za
testiranje in fotomultiplikator, dokumentacijo o konfiguraciji, dokumentacijo o
standardizaciji ter navodili za uporabo programske opreme Spark Analyzer Vision. Na voljo so tudi
različni vzorci za ponovno kalibracijo/referenčni vzorci in dodatna oprema.
Razpoložljiv analitični izpis z dne 20.12.2022 dokumentira praktično uporabo sistema
za analizo materialov CuZn40Pb2. Izzpis vsebuje merilne vrednosti za številne
elemente zlitine in sledove.

Uporabljeno stanje z znaki uporabe, ki so posledica starosti in uporabe.
Naprava je izdelana leta 2004. Na voljo je obsežna dokumentacija, dodatna oprema
in vzorci za ponovno kalibracijo/referenčni vzorci, ki so specifični za napravo. Uporaba oz. izvajanje
analiz materialov je dokumentirano z razpoložljivimi analitičnimi izpisi iz decembra 2022.

Obseg dobave
• Naprava SPECTRO SPECTROLAB F za analizo kovin
• Razpoložljivi vzorci za ponovno kalibracijo/referenčni vzorci
• Različni vzorčni telesi in standardi
• Komplet kablov oz. razpoložljivi priključni vodi
• Manjši deli in potrošni material
• Adapterji za manjše dele
• Razpoložljivi bornitridni diski
• Razpoložljiva dodatna oprema SPECTRO
• Programska oprema/medij za podatke, vključno s SPECTRO Data Backup
• Dokumentacija in testna dokumentacija
• Navodila za uporabo Spark Analyzer Vision
• Dokumentacija o DIA 2000 / DIA2000SE
• Protokoli testiranja fotomultiplikatorja
• Dokumentacija o konfiguraciji in standardizaciji
Računalnik, monitor in tiskalnik so navedeni v prvotni dokumentaciji.

Todjzx Dwnepfx Aqteb
Merilni postopek: Optična emisijska spektrometrija (OES) / Iskrena spektrometrija
Izvedba: stacionarna naprava za analizo kovin
Sistem za odčitavanje: MIKRO 8
Kalibracija: bakrova osnova
Uporaba: Cu-20 / Cu-70
Standardizacija: CU-00 – bakrova osnova
Nameščeni programi:
CU-00 – Standardizacija bakrove osnove
CU-20 – zlitine Cu/Zn
CU-70 – zlitine Cu/Al
Optični sistem:
1 × UV-optika, dokumentirana s 6 linijami
2 × zračne optike, dokumentirane z 13 / 7 linijami
Optika 1: 3600 / 750
Optika 2: 3600 / 750
Optika 3: 2400 / 750
Monokromator: Ne
Vir vzbujanja: 3000 / 300 Hz / Čisti Ar
Napetost: 230 V
Frekvenca omrežja: 50 Hz
Jezik vmesnika: nemščina
Dokumentirani elementi:
Cu, Zn, Pb, Sn, Al, Fe, Ni, Si, Mn, Mg, Cr, Co, Cd, Sb, P, S

Fotomultiplikator: pretežno R6350, posamezni UV-kanali R6351 v skladu s testno dokumentacijo
Programska oprema po dokumentaciji: DIA 2000 Basis / DIA2000SE, Spark Analyzer Vision
Priročnik za Spark Analyzer Vision: različica 09/2004
dokumentirana različica programske opreme: 1.40.0xx

Oglas je bil avtomatsko preveden. Možne so napake pri prevodu.